LST EN 60749-32-2004 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 32. Воспламеняемость устройств в пластиковых капсулах (внешнее воздействие) (IEC 60749-32:2002)
2004LST EN 60749-32-2004 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 32. Воспламеняемость устройств в пластиковых капсулах (внешнее воздействие) (IEC 60749-32:2002)