LST EN 60749-18-2003 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 18. Ионизирующее излучение (общая доза) (IEC 60749-18:2002).
2003LST EN 60749-18-2003 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 18. Ионизирующее излучение (общая доза) (IEC 60749-18:2002).