NF C96-050-12*NF EN 62047-12:2012
Полупроводниковые приборы. Микроэлектромеханические устройства. Часть 12. Метод испытаний тонкопленочных материалов на усталость при изгибе с использованием резонансной вибрации МЭМС-структур.

Стандартный №: NF C96-050-12*NF EN 62047-12:2012
Дата публикации: 2012
Разместил: Association Francaise de Normalisation
состояние: снять со счета
Последняя версия: NF C96-050-12*NF EN 62047-12:2012
заменить на: LST EN 62220-1-1-2015

NF C96-050-12*NF EN 62047-12:2012 История

2012 NF C96-050-12*NF EN 62047-12:2012 Полупроводниковые приборы. Микроэлектромеханические устройства. Часть 12. Метод испытаний тонкопленочных материалов на усталость при изгибе с использованием резонансной вибрации МЭМС-структур.

NF C96-050-12*NF EN 62047-12:2012 Полупроводниковые приборы. Микроэлектромеханические устройства. Часть 12. Метод испытаний тонкопленочных материалов на усталость при изгибе с использованием резонансной вибрации МЭМС-структур. было изменено на LST EN 62220-1-1-2015 Медицинское электрическое оборудование. Характеристики устройств цифровой рентгеновской визуализации. Часть 1-1. Определение детекторной квантовой эффективности. Детекторы, используемые в рентгенографической визуализации (IEC 62220-1-1:2015)..