DS/EN ISO 9220:1995
Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа.

Стандартный №

DS/EN ISO 9220:1995

Дата публикации

1995

Разместил

Danish Standards Foundation

Последняя версия

DS/EN ISO 9220:1995

сфера применения

Настоящий стандарт определяет метод измерения локальной толщины металлических покрытий путем исследования поперечных сечений с помощью сканирующего электронного микроскопа.

DS/EN ISO 9220:1995 История

• 1995 DS/EN ISO 9220:1995 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа.