DS/EN 62373:2006
Испытание температурной стабильности смещения для металлооксидных, полупроводниковых и полевых транзисторов (MOSFET)

Стандартный №

DS/EN 62373:2006

Дата публикации

2006

Разместил

Danish Standards Foundation

Последняя версия

DS/EN 62373:2006

сфера применения

В этом стандарте предусмотрена процедура испытаний на стабильность температуры смещения (BT) металлооксидных полупроводниковых полевых транзисторов (MOSFET).

DS/EN 62373:2006 История

• 2006 DS/EN 62373:2006 Испытание температурной стабильности смещения для металлооксидных, полупроводниковых и полевых транзисторов (MOSFET)