DS/EN 62132-2:2011
Интегральные схемы. Измерение устойчивости к электромагнитному излучению. Часть 2. Измерение устойчивости к излучению. Метод ТЕМ-ячейки и широкополосной ТЕМ-ячейки.

Стандартный №

DS/EN 62132-2:2011

Дата публикации

2011

Разместил

Danish Standards Foundation

Последняя версия

DS/EN 62132-2:2011

сфера применения

IEC 62132-2:2010 определяет метод измерения устойчивости интегральной схемы (ИС) к радиочастотным (РЧ) излучаемым электромагнитным помехам. Диапазон частот этого метода составляет от 150 кГц до 1 ГГц или ограничен характеристиками ТЕМ-ячейки.

DS/EN 62132-2:2011 История

• 2011 DS/EN 62132-2:2011 Интегральные схемы. Измерение устойчивости к электромагнитному излучению. Часть 2. Измерение устойчивости к излучению. Метод ТЕМ-ячейки и широкополосной ТЕМ-ячейки.