В этой части IEC 61788 описан метод испытаний для определения коэффициента остаточного сопротивления (RRR) композитных сверхпроводников, состоящих из нитей Nb-Ti и матрицы Cu, Cu-Ni или Cu/Cu-Ni. Этот метод предназначен для использования со сверхпроводниками, имеющими монолитную структуру с прямоугольным или круглым сечением, RRR менее 350 и площадью поперечного сечения менее 3 мм2. Все измерения выполняются без приложенного магнитного поля. Метод, описанный в основной части настоящего стандарта, является «эталонным» методом, а дополнительные методы сбора данных описаны в разделе А.3.
DS/EN 61788-4:2011 История
2011DS/EN 61788-4:2011 Сверхпроводимость. Часть 4. Измерение коэффициента остаточного сопротивления. Коэффициент остаточного сопротивления композитных сверхпроводников Nb-Ti