DS/EN 60749-11:2003 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 11. Быстрое изменение температуры. Метод двухжидкостной ванны.
Эта часть IEC 60749 определяет метод испытаний с быстрым изменением температуры и метод двухжидкостной ванны. Когда оба метода испытаний выполняются в рамках квалификации устройства, результаты циклического изменения температуры воздуха в воздухе имеют приоритет над этим методом испытаний с использованием двухжидкостной ванны. Этот метод испытаний также можно использовать с меньшим количеством циклов (например, от 5 до 10 циклов) для проверки эффекта погружения в нагретые жидкости, которые используются для очистки устройств. Этот тест применим ко всем полупроводниковым устройствам. Он считается разрушительным, если иное не указано в соответствующей спецификации. В общем, это быстрое изменение температуры и метод двухжидкостной ванны.
DS/EN 60749-11:2003 История
2004DS/EN 60749-11/Corr.2:2004 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 11. Быстрое изменение температуры. Метод двухжидкостной ванны.
2003DS/EN 60749-11/Corr.1:2003 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 11. Быстрое изменение температуры. Метод двухжидкостной ванны.
2003DS/EN 60749-11:2003 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 11. Быстрое изменение температуры. Метод двухжидкостной ванны.