В этой части IEC 60749 описывается испытание на удар, предназначенное для определения пригодности составных частей для использования в электронном оборудовании, которое может подвергаться умеренно сильным ударам в результате внезапно приложенных сил или резких изменений в движении, вызванных небрежным обращением, транспортировкой или полевая операция. Удары такого типа могут нарушить работу, обычно применимую к упаковкам полого типа. В целом, это испытание на механический удар соответствует IEC 60068-2-27, но из-за особых требований к полупроводникам применяются положения настоящего стандарта.
DS/EN 60749-10:2003 История
2004DS/EN 60749-10/Corr.1:2004 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 10. Механический удар.
2003DS/EN 60749-10:2003 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 10. Механический удар.