DS/EN 60749-6/Corr.1:2004
Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 6. Хранение при высокой температуре.

Стандартный №

DS/EN 60749-6/Corr.1:2004

Дата публикации

2004

Разместил

Danish Standards Foundation

состояние

снять со счета

Последняя версия

DS/EN 60749-6/Corr.1:2004

заменить на

SAE AS 81306/2A-2014

сфера применения

Целью данной части IEC 60749 является испытание и определение воздействия на все полупроводниковые электронные устройства хранения при повышенной температуре без приложения электрического напряжения. Этот тест считается неразрушающим, но его предпочтительно использовать для квалификации устройства. Если такие устройства используются для доставки, необходимо оценить последствия этого ускоренного стресс-теста.

DS/EN 60749-6/Corr.1:2004 История

• 2004 DS/EN 60749-6/Corr.1:2004 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 6. Хранение при высокой температуре.
• 2003 DS/EN 60749-6:2003 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 6. Хранение при высокой температуре.