DS/EN 60749-5:2003 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 5. Испытание на долговечность при установившемся смещении температуры и влажности.
В этой части стандарта IEC 60749 предусмотрены испытания на долговечность при установившейся температуре и смещении влажности с целью оценки надежности негерметичных корпусных полупроводниковых устройств во влажной среде.
DS/EN 60749-5:2003 История
2003DS/EN 60749-5:2003 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 5. Испытание на долговечность при установившемся смещении температуры и влажности.