В стандарте IEC 60749-34:2010 описан метод испытаний, используемый для определения устойчивости полупроводникового устройства к тепловым и механическим нагрузкам из-за циклического рассеивания мощности внутреннего полупроводникового кристалла и внутренних разъемов. Это происходит, когда низковольтные рабочие смещения прямой проводимости (токи нагрузки) периодически применяются и удаляются, вызывая быстрые изменения температуры. Испытание на включение и выключение питания предназначено для моделирования типичных применений в силовой электронике и дополняет определение срока службы при высоких температурах (см. IEC 60749-23). Воздействие этого испытания может не вызвать те же механизмы отказа, что и воздействие циклического изменения температуры воздух-воздух.
DS/EN 60749-34:2011 История
2011DS/EN 60749-34:2011 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 34. Выключение и выключение питания