DS/EN 60749-32/A1:2010 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 32. Воспламеняемость устройств в пластиковых капсулах (внешнее наведение)
Применительно к полупроводниковым устройствам (дискретным устройствам и интегральным схемам) этот тест определяет, воспламеняется ли устройство из-за внешнего нагрева. В тесте используется игольчатое пламя, имитирующее эффект небольшого пламени, которое может возникнуть в результате неисправности оборудования, содержащего устройство.
DS/EN 60749-32/A1:2010 История
2010DS/EN 60749-32/A1:2010 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 32. Воспламеняемость устройств в пластиковых капсулах (внешнее наведение)
2004DS/EN 60749-32+Corr.1:2004 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 32. Воспламеняемость устройств в пластиковых капсулах (внешнее наведение)