DS/EN 60749-18:2003
Приборы полупроводниковые. Механические и климатические методы испытаний. Часть 18. Ионизирующее излучение (суммарная доза)

Стандартный №

DS/EN 60749-18:2003

Дата публикации

2003

Разместил

Danish Standards Foundation

Последняя версия

DS/EN 60749-18:2003

сфера применения

В этой части стандарта IEC 60749 представлена процедура испытаний для определения требований к испытаниям корпусных полупроводниковых интегральных схем и дискретных полупроводниковых устройств на воздействие ионизирующего излучения (общая доза) от источника гамма-излучения кобальта-60 (60Co).

DS/EN 60749-18:2003 История

• 2003 DS/EN 60749-18:2003 Приборы полупроводниковые. Механические и климатические методы испытаний. Часть 18. Ионизирующее излучение (суммарная доза)