DS/ES 59008-4-1:2001 Требования к данным для полупроводникового кристалла. Часть 4-1. Особые требования и рекомендации. Испытания и качество. - Стандарты и спецификации PDF

DS/ES 59008-4-1:2001
Требования к данным для полупроводникового кристалла. Часть 4-1. Особые требования и рекомендации. Испытания и качество.

Стандартный №
DS/ES 59008-4-1:2001
Дата публикации
2001
Разместил
Danish Standards Foundation
Последняя версия
DS/ES 59008-4-1:2001
сфера применения
Эта серия европейских спецификаций определяет требования к обмену данными, относящимися к голому полупроводниковому кристаллу, с соединительными структурами или без них, а также полупроводниковому кристаллу в минимальной упаковке. Данная спецификация также дает рекомендации по общей отраслевой практике использования голого кристалла, с соединительными конструкциями или без них, а также кристаллов с минимальной компоновкой. ES 59008-4-1 устанавливает требования к данным, необходимым для описания испытаний и параметров качества штампа.

DS/ES 59008-4-1:2001 История

  • 2001 DS/ES 59008-4-1:2001 Требования к данным для полупроводникового кристалла. Часть 4-1. Особые требования и рекомендации. Испытания и качество.



© 2023. Все права защищены.