Этот стандарт определяет общие принципы дифракции рентгеновских лучей на поликристаллических и аморфных материалах. Этот метод испытания материалов традиционно назывался «Рентгеновская порошковая дифракция (XRPD)» и теперь применяется к порошкам, сыпучим материалам, тонким пленкам и другим материалам. Поскольку этот метод можно использовать для различных типов материалов и для получения самой разнообразной информации, в настоящем стандарте рассматривается большое количество типов анализа, но он не является исчерпывающим.
DS/EN 13925-1:2003 История
2003DS/EN 13925-1:2003 Неразрушающий контроль. Рентгеновская дифракция на поликристаллических и аморфных материалах. Часть 1. Общие принципы.