В данной технической спецификации описаны методы определения мезоскопических коэффициентов формы многостенных углеродных нанотрубок (МУНТ). Используемые методы включают сканирующую электронную микроскопию (SEM), трансмиссионную электронную микроскопию (TEM), вискозиметрию и анализ светорассеяния. В настоящие технические спецификации также включены дополнительные термины, необходимые для определения характеристики стойкости рассеянного изгиба (SBPL). Приводятся два метода приближения для оценки SBPL (который обычно варьируется от нескольких десятков нанометров до нескольких сотен микрометров). Хорошо известные концепции и математические выражения, аналогичные физике полимеров.