ISO 18452:2005
Тонкая керамика (высокотехнологичная керамика, усовершенствованная техническая керамика) - Определение толщины керамических пленок контактно-зондовым профилометром.

Стандартный №

ISO 18452:2005

Дата публикации

2005

Разместил

International Organization for Standardization (ISO)

Последняя версия

ISO 18452:2005

сфера применения

Настоящий международный стандарт определяет метод определения толщины тонкой керамической пленки и керамических покрытий с помощью контактно-зондового профилометра. Метод подходит для пленок толщиной от 10 до 10 000 нм. П р и м е ч а н и е — Метод требует четкой и четкой границы между частями подложки с покрытием и без покрытия.

ISO 18452:2005 Ссылочный документ

• ISO 3274 Геометрические характеристики изделия (GPS) - Текстура поверхности: Профильный метод - Номинальные характеристики контактных (щуповых) инструментов; Техническое исправление 1

ISO 18452:2005 История

• 2005 ISO 18452:2005 Тонкая керамика (высокотехнологичная керамика, усовершенствованная техническая керамика) - Определение толщины керамических пленок контактно-зондовым профилометром.