ISO 16962:2005 Химический анализ поверхности. Анализ металлических покрытий на основе цинка и/или алюминия методом оптико-эмиссионной спектрометрии тлеющего разряда. - Стандарты и спецификации PDF

ISO 16962:2005
Химический анализ поверхности. Анализ металлических покрытий на основе цинка и/или алюминия методом оптико-эмиссионной спектрометрии тлеющего разряда.

Стандартный №
ISO 16962:2005
Дата публикации
2005
Разместил
International Organization for Standardization (ISO)
состояние
быть заменен
ISO 16962:2017
Последняя версия
ISO 16962:2017
сфера применения
Настоящий международный стандарт устанавливает оптико-эмиссионный метод тлеющего разряда для определения толщины, массы на единицу площади и химического состава покрытий металлических поверхностей, состоящих из материалов на основе цинка и/или алюминия. В качестве легирующих элементов рассматриваются никель, железо, кремний, свинец и сурьма. Этот метод применим к содержанию цинка от 0,01 до 100 мас.%; содержание алюминия от 0,01 до 100 мас.%; содержание никеля от 0,01 до 20 мас.%; содержание железа от 0,01 до 20 мас.%; содержание кремния от 0,01 до 10 мас.%; содержание свинца от 0,005 мас.% до 2 мас.%; содержание сурьмы составляет от 0,005 до 2 мас.%.

ISO 16962:2005 Ссылочный документ

  • ISO 14284 Сталь и железо. Отбор и подготовка проб для определения химического состава.*2022-10-25 Обновление
  • ISO 14707 Химический анализ поверхности. Оптическая эмиссионная спектрометрия тлеющего разряда (GD-OES). Введение в использование.*2021-02-28 Обновление
  • ISO 17925  Покрытия на основе цинка и/или алюминия на стали. Определение массы покрытия на единицу площади и химического состава. Гравиметрия, атомно-эмиссионная спектрометрия с индуктивно-связанной плазмой и атомно-абсорбционная спектрометрия в пламени.

ISO 16962:2005 История

  • 2017 ISO 16962:2017 Химический анализ поверхности. Анализ металлических покрытий на основе цинка и/или алюминия методом оптико-эмиссионной спектрометрии тлеющего разряда.
  • 2005 ISO 16962:2005 Химический анализ поверхности. Анализ металлических покрытий на основе цинка и/или алюминия методом оптико-эмиссионной спектрометрии тлеющего разряда.



© 2023. Все права защищены.