BS EN 62047-13:2012 Полупроводниковые приборы. Микроэлектромеханические устройства. Методы испытаний на изгиб и сдвиг для измерения прочности сцепления МЭМС-структур - Стандарты и спецификации PDF

BS EN 62047-13:2012
Полупроводниковые приборы. Микроэлектромеханические устройства. Методы испытаний на изгиб и сдвиг для измерения прочности сцепления МЭМС-структур

Стандартный №
BS EN 62047-13:2012
Дата публикации
2012
Разместил
British Standards Institution (BSI)
Последняя версия
BS EN 62047-13:2012

BS EN 62047-13:2012 История

  • 2012 BS EN 62047-13:2012 Полупроводниковые приборы. Микроэлектромеханические устройства. Методы испытаний на изгиб и сдвиг для измерения прочности сцепления МЭМС-структур



© 2023. Все права защищены.