GJB 192B-2011
Общие технические условия на конденсаторы негерметизированные с фиксированным многослойным керамическим диэлектриком установленной надежности (Англоязычная версия)
- Стандартный №
- GJB 192B-2011
- язык
- Китайский, Доступно на английском
- Дата публикации
- 2011
- Разместил
- Military Standard of the People's Republic of China-General Armament Department
- Последняя версия
- GJB 192B-2011
- заменять
- GJB 192A-1998
- сфера применения
- Настоящая спецификация устанавливает общие требования, правила обеспечения качества и методы контроля неинкапсулированных многослойных керамических конденсаторов постоянной емкости (далее - конденсаторы).
GJB 192B-2011 Ссылочный документ
- GB/T 3131 Оловянно-свинцовый припой*， 2020-09-29 Обновление
- GB/T 9491 Флюс для пайки олова*， 2021-12-31 Обновление
- GJB 150.10-1986 Методы экологических испытаний военной техники Испытание пресс-форм
- GJB 2649 Планы и процедуры выборки показателей отказов военных электронных компонентов
- GJB 2823 Метод оценки среднего заводского уровня качества электронной компонентной продукции
- GJB 3014 Статистическая система управления технологическими процессами электронных компонентов
- GJB 360B-2009 Методы испытаний электронных и электрических компонентов
- GJB 546 Схема гарантии надежности электронных компонентов
- SJ/T 11186 Общие характеристики паяльной пасты*， 2019-12-24 Обновление
GJB 192B-2011 История
- 2011 GJB 192B-2011 Общие технические условия на конденсаторы негерметизированные с фиксированным многослойным керамическим диэлектриком установленной надежности
- 1998 GJB 192A-1998 Общие технические условия на неинкапсулированные многослойные чип-керамические конденсаторы с показателями надежности
- 1986 GJB 192-1986 Общие технические условия на негерметичные керамические конденсаторы с многослойными кристаллами с показателями надежности
GJB 192B-2011 Общие технические условия на конденсаторы негерметизированные с фиксированным многослойным керамическим диэлектриком установленной надежности было изменено на GJB 192A-1998 Общие технические условия на неинкапсулированные многослойные чип-керамические конденсаторы с показателями надежности.
