DIN EN 62047-10:2012 Полупроводниковые устройства. Микроэлектромеханические устройства. Часть 10. Испытание на микростолбчатое сжатие материалов МЭМС (IEC 62047-10:2011); Немецкая версия EN 62047-10:2011. - Стандарты и спецификации PDF

DIN EN 62047-10:2012
Полупроводниковые устройства. Микроэлектромеханические устройства. Часть 10. Испытание на микростолбчатое сжатие материалов МЭМС (IEC 62047-10:2011); Немецкая версия EN 62047-10:2011.

Стандартный №
DIN EN 62047-10:2012
Дата публикации
2012
Разместил
German Institute for Standardization
состояние
быть заменен
DIN EN 62047-10:2012-03
Последняя версия
DIN EN 62047-10:2012-03
заменять
DIN IEC 62047-10:2010

DIN EN 62047-10:2012 История

  • 2012 DIN EN 62047-10:2012-03 Полупроводниковые устройства. Микроэлектромеханические устройства. Часть 10. Испытание на микростолбчатое сжатие материалов МЭМС (IEC 62047-10:2011); Немецкая версия EN 62047-10:2011.
  • 2012 DIN EN 62047-10:2012 Полупроводниковые устройства. Микроэлектромеханические устройства. Часть 10. Испытание на микростолбчатое сжатие материалов МЭМС (IEC 62047-10:2011); Немецкая версия EN 62047-10:2011.
  • 0000 DIN IEC 62047-10:2010



© 2023. Все права защищены.