NF C96-261-2*NF EN 62132-2:2011 Интегральные схемы. Измерение устойчивости к электромагнитному излучению. Часть 2. Измерение устойчивости к излучению. Метод TEM-ячейки и широкополосной TEM-ячейки. - Стандарты и спецификации PDF

NF C96-261-2*NF EN 62132-2:2011
Интегральные схемы. Измерение устойчивости к электромагнитному излучению. Часть 2. Измерение устойчивости к излучению. Метод TEM-ячейки и широкополосной TEM-ячейки.

Стандартный №
NF C96-261-2*NF EN 62132-2:2011
Дата публикации
2011
Разместил
Association Francaise de Normalisation
Последняя версия
NF C96-261-2*NF EN 62132-2:2011

NF C96-261-2*NF EN 62132-2:2011 История

  • 2011 NF C96-261-2*NF EN 62132-2:2011 Интегральные схемы. Измерение устойчивости к электромагнитному излучению. Часть 2. Измерение устойчивости к излучению. Метод TEM-ячейки и широкополосной TEM-ячейки.



© 2023. Все права защищены.