JIS R 1750:2012 Тонкая керамика. Источник света для тестирования полупроводниковых фотокаталитических материалов, используемых при внутреннем освещении. - Стандарты и спецификации PDF

JIS R 1750:2012
Тонкая керамика. Источник света для тестирования полупроводниковых фотокаталитических материалов, используемых при внутреннем освещении.

Стандартный №
JIS R 1750:2012
Дата публикации
2012
Разместил
Japanese Industrial Standards Committee (JISC)
Последняя версия
JIS R 1750:2012

JIS R 1750:2012 История

  • 2012 JIS R 1750:2012 Тонкая керамика. Источник света для тестирования полупроводниковых фотокаталитических материалов, используемых при внутреннем освещении.



© 2023. Все права защищены.