ISO 13084:2011 Химический анализ поверхности. Масс-спектрометрия вторичных ионов. Калибровка шкалы масс для времяпролетного масс-спектрометра вторичных ионов. - Стандарты и спецификации PDF

ISO 13084:2011
Химический анализ поверхности. Масс-спектрометрия вторичных ионов. Калибровка шкалы масс для времяпролетного масс-спектрометра вторичных ионов.

Стандартный №
ISO 13084:2011
Дата публикации
2011
Разместил
International Organization for Standardization (ISO)
состояние
быть заменен
ISO 13084:2018
Последняя версия
ISO 13084:2018
сфера применения
Настоящий международный стандарт определяет метод оптимизации точности калибровки массы во времяпролетных приборах SIMS, используемых для общих аналитических целей. Он применим только к времяпролетным приборам, но не ограничивается какой-либо конкретной конструкцией приборов. Предоставляются рекомендации для некоторых параметров прибора, которые можно оптимизировать с помощью этой процедуры, а также типов общих пиков, подходящих для калибровки шкалы масс для достижения оптимальной точности массы.

ISO 13084:2011 История

  • 2018 ISO 13084:2018 Химический анализ поверхности. Масс-спектрометрия вторичных ионов. Калибровка шкалы масс для времяпролетного масс-спектрометра вторичных ионов.
  • 2011 ISO 13084:2011 Химический анализ поверхности. Масс-спектрометрия вторичных ионов. Калибровка шкалы масс для времяпролетного масс-спектрометра вторичных ионов.



© 2023. Все права защищены.