BS EN 62416:2010
Полупроводниковые приборы. Испытание горячих носителей МОП-транзисторов

Стандартный №

BS EN 62416:2010

Дата публикации

2010

Разместил

British Standards Institution (BSI)

Последняя версия

BS EN 62416:2010

сфера применения

Этот стандарт описывает испытание горячих носителей на уровне пластины на транзисторах NMOS и PMOS. Тест предназначен для определения того, соответствуют ли отдельные транзисторы в определенном (C) МОП-процессе требуемому сроку службы горячих носителей.

BS EN 62416:2010 История

• 2010 BS EN 62416:2010 Полупроводниковые приборы. Испытание горячих носителей МОП-транзисторов