ASTM B588-88(2010)
Стандартный метод испытаний для измерения толщины прозрачных или непрозрачных покрытий с помощью метода двухлучевого интерференционного микроскопа
- Стандартный №
- ASTM B588-88(2010)
- Дата публикации
- 1988
- Разместил
- American Society for Testing and Materials (ASTM)
- состояние
- 2016-01
- Последняя версия
- ASTM B588-88(2010)
- сфера применения
- Толщина покрытия часто имеет решающее значение для его эксплуатационных характеристик. Для некоторых комбинаций покрытие-подложка метод интерференционного микроскопа является надежным методом измерения толщины покрытия. Этот метод испытаний подходит для принятия технических условий. 1.1 Этот метод испытаний охватывает измерение толщины прозрачного оксида металла и металлических покрытий с использованием двухлучевого интерференционного микроскопа. 1.2 Метод испытаний требует, чтобы поверхность или поверхности образца были достаточно зеркальными, чтобы образовывались различимые полосы. 1.3 Этот метод испытаний можно использовать неразрушающим способом для измерения от 1 до 10 °C. м толстые прозрачные покрытия, такие как анодные покрытия на алюминии. Этот метод испытаний используется разрушительно для непрозрачных покрытий толщиной от 0,1 до 10 мкм путем снятия части покрытия и измерения высоты ступеньки между покрытием и открытой подложкой. Метод зачистки также можно использовать для измерения анодных покрытий на алюминии толщиной от 0,2 до 10 мкм. 1.4 Этот метод испытаний можно использовать в качестве эталонного метода для измерения толщины анодной пленки на алюминии или металлических покрытиях, если метод включает полное удаление части покрытия без воздействия на подложку. Для анодных пленок на алюминии толщина должна быть больше 0,4 мкм; неопределенность может достигать 0,2 мкм. Для металлических покрытий толщина должна быть более 0,25 мкм; неопределенность может достигать 0,1 мкм. 1.5 Значения, указанные в единицах СИ, следует считать стандартными. Никакие другие единицы измерения в настоящий стандарт не включены. 1.6 Настоящий стандарт не претендует на решение всех проблем безопасности, если таковые имеются, связанных с его использованием. Пользователь настоящего стандарта несет ответственность за установление соответствующих мер безопасности и охраны труда и определение применимости нормативных ограничений перед использованием.
ASTM B588-88(2010) Ссылочный документ
- ASTM B504 Стандартный метод испытаний для измерения толщины металлических покрытий кулонометрическим методом*， 2023-05-01 Обновление
ASTM B588-88(2010) История
- 1988 ASTM B588-88(2010) Стандартный метод испытаний для измерения толщины прозрачных или непрозрачных покрытий с помощью метода двухлучевого интерференционного микроскопа
- 1988 ASTM B588-88(2006) Стандартный метод испытаний для измерения толщины прозрачных или непрозрачных покрытий с помощью метода двухлучевого интерференционного микроскопа
- 1988 ASTM B588-88(2001) Стандартный метод испытаний для измерения толщины прозрачных или непрозрачных покрытий с помощью метода двухлучевого интерференционного микроскопа
- 1988 ASTM B588-88(1994) Стандартный метод испытаний для измерения толщины прозрачных или непрозрачных покрытий с помощью метода двухлучевого интерференционного микроскопа
