В настоящей технической спецификации приведены рекомендации по определению характеристик одностенных углеродных нанотрубок (ОУНТ) с использованием фотолюминесцентной (ФЛ) спектроскопии ближнего инфракрасного диапазона (БИК). В настоящей технической спецификации описан метод измерения для определения киральных индексов полупроводниковых ОСУНТ в образце и их относительных интегральных интенсивностей ФЛ. Метод может быть расширен для оценки относительных массовых концентраций полупроводниковых ОУНТ в образце на основе измеренных интегральных интенсивностей ФЛ и знания их сечений ФЛ.