GB/T 25186-2010
Химический анализ поверхности. Вторично-ионная масс-спектрометрия. Определение коэффициентов относительной чувствительности по ионно-имплантированным стандартным образцам. (Англоязычная версия)
- Стандартный №
- GB/T 25186-2010
- язык
- Китайский, Доступно на английском
- Дата публикации
- 2010
- Разместил
- General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China
- Последняя версия
- GB/T 25186-2010
- сфера применения
- Настоящий международный стандарт определяет метод определения коэффициентов относительной чувствительности при масс-спектрометрии вторичных ионов на основе ионно-имплантированных эталонных материалов. Настоящий стандарт распространяется на образцы с единой матрицей химического состава, у которых пиковая атомная концентрация вводимого вещества не превышает 1%.
GB/T 25186-2010 Ссылочный документ
- GB/T 22461-2008 Химический анализ поверхности. Словарь.
GB/T 25186-2010 История
- 2010 GB/T 25186-2010 Химический анализ поверхности. Вторично-ионная масс-спектрометрия. Определение коэффициентов относительной чувствительности по ионно-имплантированным стандартным образцам.
