ASTM E668-10 Стандартная практика применения систем термолюминесцентно-дозиметрии (ТЛД) для определения поглощенной дозы при испытаниях электронных устройств на радиационную стойкость
Поглощенная доза в материале является важным параметром, который можно коррелировать с радиационными эффектами, возникающими в электронных компонентах и устройствах, подвергающихся воздействию ионизирующего излучения. Разумные оценки этого параметра можно рассчитать, если известны данные о поле излучения источника (то есть энергетическом спектре и флюенсе частиц). Достаточно подробная информация о радиационном поле обычно отсутствует. Однако измерения поглощенной дозы с помощью пассивных дозиметров в испытательной установке радиации могут предоставить информацию, на основе которой можно сделать вывод о поглощенной дозе в интересующем материале. При определенных предписанных условиях ДВУ вполне подходят для проведения таких измерений. Примечание 28212; Подробное обсуждение различных методов дозиметрии, применимых к типам излучения, энергии и диапазону мощности поглощенной дозы, обсуждаемых в этой методике, см. в отчетах ICRU 14, 17, 21 и 34.1.1. Эта методика охватывает процедуры использования термолюминесценции. дозиметры (ДЛД) для определения поглощенной дозы в материале, облученном ионизирующим излучением. Хотя некоторые элементы процедур имеют более широкое применение, конкретной областью беспокойства являются испытания электронных устройств на радиационную стойкость. Эта практика применима для измерения поглощенной дозы в материалах, облученных гамма-лучами, рентгеновскими лучами и электронами с энергией от 12 до 60 МэВ. Конкретные пределы энергии описаны в соответствующих разделах, описывающих конкретные применения процедур. Диапазон охваченной поглощенной дозы составляет примерно от 10 2 до 10 Гр (от 1 до 10 6 рад), а диапазон мощностей поглощенной дозы - примерно от 10 2 до 10 10 Гр/с (1 до 1012 рад/с). Измерения поглощенной дозы и мощности поглощенной дозы в материалах, подвергнутых нейтронному облучению, не рассматриваются в данной практике. Кроме того, часть этих процедур, касающаяся электронного облучения, в первую очередь предназначена для использования при испытаниях деталей. Тестирование устройств в составе более массивных компонентов, таких как электронные платы или коробки, может потребовать применения методов, выходящих за рамки данной практики. Примечание 18212; Целью верхних и нижних пределов энергии электронного облучения является приближение к предельному случаю, при котором дозиметрия упрощается. В частности, указанная методология дозиметрии требует соблюдения следующих трех предельных условий: (а) потери энергии первичных электронов невелики, (б) вторичные электроны в значительной степени задерживаются внутри дозиметра и (в) тормозное излучение, генерируемое первичными электронами. электроны в значительной степени теряются. 1.2 Эта стандартная доза не призвана решить все проблемы безопасности, если таковые имеются, связанные с ее использованием. Пользователь настоящего стандарта несет ответственность за установление соответствующих мер безопасности и охраны труда и определение применимости нормативных ограничений перед использованием.
ASTM E668-10 История
2020ASTM E668-20 Стандартная практика применения систем термолюминесцентно-дозиметрии (ТЛД) для определения поглощенной дозы при испытаниях электронных устройств на радиационную стойкость
2013ASTM E668-13 Стандартная практика применения систем термолюминесцентно-дозиметрии (ТЛД) для определения поглощенной дозы при испытаниях электронных устройств на радиационную стойкость
2010ASTM E668-10 Стандартная практика применения систем термолюминесцентно-дозиметрии (ТЛД) для определения поглощенной дозы при испытаниях электронных устройств на радиационную стойкость
2005ASTM E668-05 Стандартная практика применения систем термолюминесцентно-дозиметрии (ТЛД) для определения поглощенной дозы при испытаниях электронных устройств на радиационную стойкость
2000ASTM E668-00 Стандартная практика применения систем термолюминесцентно-дозиметрии (ТЛД) для определения поглощенной дозы при испытаниях электронных устройств на радиационную стойкость