ASTM G173-03(2008) Стандартные таблицы для эталонного солнечного спектрального излучения: прямого нормального и полусферического на 37176; Наклоненная поверхность
Поглощение, отражение и пропускание солнечной энергии являются важными факторами в исследованиях деградации материалов, производительности солнечной тепловой системы, производительности солнечной фотоэлектрической системы, биологических исследованиях и моделировании солнечной энергии. Эти оптические свойства обычно являются функциями длины волны, что требует знания спектрального распределения солнечного потока, прежде чем можно будет рассчитать солнечно-взвешенное свойство. Чтобы сравнить относительные характеристики конкурирующих продуктов или сравнить характеристики продуктов до и после воздействия погодных условий или других условий воздействия, желательно использовать эталонное стандартное спектральное распределение солнечной энергии. В этих таблицах представлены соответствующие стандартные спектральные распределения излучения для определения относительных оптических характеристик материалов, солнечных тепловых, солнечных фотоэлектрических и других систем. Таблицы можно использовать для оценки компонентов и материалов с целью моделирования солнечного излучения, когда желательно либо прямое, либо полусферическое (то есть прямой луч плюс рассеянное небо) спектральное солнечное излучение. Однако эти таблицы не предназначены для использования в качестве эталона ультрафиолетового излучения, используемого при испытаниях материалов на воздействие внутри помещений с использованием промышленных источников света. Суммарная интегральная освещенность для прямого и полусферического наклонного спектров составляет 900,1 Вт·м-2 и 1000,4 Вт·м-2 соответственно. Обратите внимание, что в фотоэлектрических приложениях не требуется никаких корректировок амплитуды для соответствия стандартным условиям отчетности в 1000 Вт·м-2 для полусферической освещенности. Ранее определенный глобальный полусферический эталонный спектр (G159) для обращенной к Солнцу поверхности с наклоном 37° хорошо послужил для удовлетворения потребностей исследований, разработок и промышленного сообщества в области плоских фотоэлектрических пластин. Исследование преобладающих условий и измеренных спектров показывает, что этот глобальный эталонный полусферический спектр может быть получен на практике при различных условиях и что эти условия можно интерпретировать как репрезентативные для многих комбинаций атмосферных параметров. Более ранний глобальный эталонный спектр полусферы может быть близко, но не точно, воспроизведен с улучшенным спектральным диапазоном длин волн, равномерным спектральным интервалом и спектральным разрешением, эквивалентным спектральному интервалу, с использованием входных данных в X1.4. Эталонные спектры, сгенерированные моделью SMARTS версии 2.9.2 для указанных условий, показаны на рис. 1. Точная структура входного файла, необходимая для генерации эталонных спектров, показана в таблице 1. Наличие дополнительного (ADJG173CD) стандартного компьютерного программного обеспечения. для СМАРТС позволяет (1) воспроизводить эталонные спектры, используя указанные выше входные параметры; (2) вычислить тестовые спектры, чтобы попытаться сопоставить измеренные данные на указанной полуширине, и оценить атмосферные условия; и (3) вычисляют тестовые спектры, представляющие конкретные условия для анализа относительно любого одного или всех эталонных спектров. Отличия от предыдущих стандартных спектров (G159) можно резюмировать следующим образом: Расширенный спектральный интервал в ультрафиолете (до 280 нм, а не 305 нм), Лучшее разрешение (2002 длины волны по сравнению со 120), Постоянные интервалы (0,5 нм). ниже 400 нм, 1 нм между 400 и 1700 нм и 5 нм выше), Лучшее определение атмосферного рассеяния и газового поглощения с учетом большего количества видов, Лучше определенный внеземной спектр, Более реалистичная спектральная отражательная способность земли и Меньшая оптическая толщина аэрозоля, что дает значительно больше прямого......
ASTM G173-03(2008) История
2023ASTM G173-23 Стандартные таблицы для эталонного солнечного спектрального излучения: прямое нормальное и полусферическое на поверхности, наклоненной на 37°.
2020ASTM G173-03(2020) Стандартные таблицы для эталонного солнечного спектрального излучения: прямого нормального и полусферического на 37° Наклоненная поверхность
2003ASTM G173-03(2012) Стандартные таблицы для эталонного солнечного спектрального излучения: прямое нормальное и полусферическое на 37 градусах; Наклоненная поверхность
2003ASTM G173-03(2008) Стандартные таблицы для эталонного солнечного спектрального излучения: прямого нормального и полусферического на 37176; Наклоненная поверхность
2003ASTM G173-03e1 Стандартные таблицы для эталонного солнечного спектрального излучения: прямого нормального и полусферического на 37176; Наклоненная поверхность
2003ASTM G173-03 Стандартные таблицы для эталонного солнечного спектрального излучения: прямого нормального и полусферического на 37176; Наклоненная поверхность