SJ/T 11403-2009
Лазерные диодные модули, используемые в телекоммуникациях. Оценка надежности. (Англоязычная версия)

Стандартный №

SJ/T 11403-2009

язык

Китайский, Доступно на английском

Дата публикации

2009

Разместил

Professional Standard - Electron

Последняя версия

SJ/T 11403-2009

сфера применения

Настоящий стандарт применяется к оценке надежности модулей лазерных диодов для оптической связи.

SJ/T 11403-2009 Ссылочный документ

• GB/T 15651-1995 Полупроводниковые приборы. Дискретные устройства и интегральные схемы. Часть 5: Оптоэлектронные устройства
• GB/T 17573-1998 Полупроводниковые приборы. Дискретные устройства и интегральные схемы. Часть 1: Общие сведения
• GB/T 18904.2-2002 Полупроводниковые приборы. Часть 12-2. Оптоэлектронные устройства. Бланковая подробная спецификация для модулей лазерных диодов с пигтейлом для волоконно-оптических систем или подсистем.
• GB/T 2423.1-2008 Экологические испытания электрических и электронных изделий. Часть 2. Методы испытаний. Испытания A: Холод.
• GB/T 2423.10-2008 Экологические испытания электрических и электронных изделий. Часть 2. Методы испытаний. Испытание Fc: Вибрация (синусоидальная).
• GB/T 2423.2-2008 Экологические испытания электрических и электронных изделий. Часть 2. Методы испытаний. Испытания B: Сухой жар.
• GB/T 2423.22-2002 Экологические испытания электрических и электронных изделий. Часть 2. Методы испытаний. Испытание N. Изменение температуры.
• GB/T 2423.23-1995 Экологические испытания электрических и электронных изделий. Тест Q: Герметизация
• GB/T 2423.3-2006 Экологические испытания электрических и электронных изделий. Часть 2. Метод тестирования. Испытательная кабина: влажное тепло, устойчивое состояние.
• GJB 128A-1997 Методы испытаний полупроводниковых дискретных устройств
• GJB 548A-1996 Методы и процедуры испытаний микроэлектронных устройств
• GJB 915A-1997 Методы испытаний оптоволокна

SJ/T 11403-2009 История

• 2009 SJ/T 11403-2009 Лазерные диодные модули, используемые в телекоммуникациях. Оценка надежности.