Настоящий стандарт определяет термины и определения, допуски и методы контроля отклонения поверхности оптических компонентов. Настоящий стандарт применяется для контроля отклонения поверхности оптических деталей интерференционным методом равной толщины и интерферометрическим методом с использованием оптических шаблонов.