Настоящий стандарт устанавливает метод, в котором толщиномеры слоев, основанные на магнитных принципах, используются для неразрушающего измерения толщины слоев немагнитных покрытий (включая также покрытия из глазурованной эмали и фарфоровой эмали) на магнитных недрагоценных металлах. Этот метод можно использовать только для измерений на относительно плоских объектах. Для никелевых покрытий на немагнитных подложках предпочтительным является метод, указанный в ISO 2361.
DS/EN ISO 2178:1995 История
1995DS/EN ISO 2178:1995 Немагнитные покрытия на магнитных подложках. Измерение толщины покрытия. Магнитный метод.