Настоящий стандарт устанавливает метод, с помощью которого толщиномеры слоев, работающие на вихретоковом принципе, используются для неразрушающего измерения толщины слоя непроводящих покрытий на немагнитные недрагоценные металлы. Этот метод можно использовать для измерения толщины слоя большинства оксидных покрытий, полученных анодированием, но его нельзя использовать для всех покрытий, преобразующих поверхность, поскольку некоторые из них настолько Тонко, что измерение этим методом невозможно (см. пункт 7). Хотя теоретически метод можно использовать для измерения толщины слоя на магнитные недрагоценные металлы, это не рекомендуется. В таких случаях следует использовать магнитный метод, описанный в DS/ISO 2178.
DS/EN ISO 2360:1995 История
2004DS/EN ISO 2360:2004 Непроводящие покрытия на немагнитных электропроводящих материалах основы. Измерение толщины покрытия. Амплитудно-чувствительный вихретоковый метод.
1995DS/EN ISO 2360:1995 Непроводящие покрытия на немагнитной основе из металлов. Измерение толщины покрытия. Вихретоковый метод.