GB/T 23414-2009
Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Словарь. (Англоязычная версия)
- Стандартный №
- GB/T 23414-2009
- язык
- Китайский, Доступно на английском
- Дата публикации
- 2009
- Разместил
- General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China
- Последняя версия
- GB/T 23414-2009
- сфера применения
- Этот стандарт определяет термины, используемые в практике сканирующей электронной микроскопии (СЭМ). Включает общие термины и термины конкретных концепций, классифицированных по технологиям, а также включает термины, уже определенные в ISO 23833. Этот стандарт применяется ко всем стандартизированным документам, связанным с практикой SEM. Кроме того, некоторые определения терминов в настоящем стандарте также применимы к документам в смежных областях (например: электронно-зондовый микроанализ (ЭПМА), аналитическая электронная микроскопия (АЭМ), энергетическая спектроскопия (EDX) и т. д.).
GB/T 23414-2009 История
- 2009 GB/T 23414-2009 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Словарь.
