JIS C 5630-2:2009
Полупроводниковые приборы. Микроэлектромеханические устройства. Часть 2. Метод испытания тонкопленочных материалов на растяжение.

Стандартный №

JIS C 5630-2:2009

Дата публикации

2009

Разместил

Japanese Industrial Standards Committee (JISC)

Последняя версия

JIS C 5630-2:2009

JIS C 5630-2:2009 Ссылочный документ

• ISO 6892 Металлические материалы. Испытание на растяжение при температуре окружающей среды

JIS C 5630-2:2009 История

• 2009 JIS C 5630-2:2009 Полупроводниковые приборы. Микроэлектромеханические устройства. Часть 2. Метод испытания тонкопленочных материалов на растяжение.