EN 60749-19:2003
Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 19. Прочность матрицы на сдвиг (с учетом исправлений, июнь 2003 г.; включает поправку A1: 2010 г.).

Стандартный №

EN 60749-19:2003

Дата публикации

2003

Разместил

European Committee for Electrotechnical Standardization（CENELEC）

Последняя версия

EN 60749-19:2003

EN 60749-19:2003 История

• 2003 EN 60749-19:2003 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 19. Прочность матрицы на сдвиг (с учетом исправлений, июнь 2003 г.; включает поправку A1: 2010 г.).