Конструкция фотоэлектрического модуля или системы, предназначенной для обеспечения безопасного преобразования солнечной энергии в полезную электроэнергию, должна учитывать возможность частичного затенения модуля(ов) во время работы. Этот метод испытаний описывает процедуру проверки того, что конструкция и конструкция модуля обеспечивают адекватную защиту от потенциально вредного воздействия горячих точек во время нормальной установки и использования. Этот метод испытаний описывает процедуру определения способности модуля обеспечивать защиту от внутренних дефектов, которые могут привести к потере электрической изоляции или опасности возгорания. Нагрев горячей точки возникает в модуле, когда его рабочий ток превышает приведенный ток короткого замыкания (Isc) затененной или неисправной ячейки или группы ячеек. Когда возникает такое состояние, затронутая ячейка или группа ячеек переключаются на обратное смещение и должны рассеивать мощность, что может вызвать перегрев. Примечание 18212; Правильное использование байпасных диодов может предотвратить повреждение от перегрева. На рис. 1 показан эффект горячей точки в модуле из последовательной строки ячеек, одна из которых, ячейка Y, частично затенена. Количество электроэнергии, рассеиваемой в Y, равно произведению тока модуля и обратного напряжения, развиваемого на Y. Для любого уровня освещенности, когда обратное напряжение на Y равно напряжению, генерируемому оставшимися (с-1) ячеек модуля, рассеиваемая мощность максимальна, когда модуль закорочен. На рис. 1 это показано заштрихованным прямоугольником, построенным на пересечении обратной ВАХ Y с изображением прямой ВАХ ячеек (s-1). Обходные диоды, если они присутствуют, как показано на рис. 2, начинают проводить ток, когда последовательно соединенная цепочка в модуле находится в обратном смещении, тем самым ограничивая рассеивание мощности в ячейке с пониженным выходным напряжением. Примечание 28212; Если модуль не содержит байпасных диодов, ознакомьтесь с инструкциями производителя, чтобы узнать, рекомендуется ли максимальное количество последовательных модулей перед установкой байпасных диодов. Если максимальное рекомендуемое количество модулей больше одного, тест на горячую точку следует проводить с таким количеством модулей, соединенных последовательно. Для удобства дополнительные модули можно заменить источником постоянного тока для поддержания заданного тока. Обратные характеристики солнечных элементов могут существенно различаться. Ячейки могут иметь либо высокое шунтирующее сопротивление, когда обратная характеристика ограничена напряжением, либо низкое шунтирующее сопротивление, когда обратная характеристика ограничена током. Каждый из этих типов клеток может страдать от проблем с горячими точками, но по-разному. Ячейки с низким шунтирующим сопротивлением. Наихудшие условия затенения возникают, когда затенена вся ячейка (или большая ее часть). Часто клетки с низким сопротивлением шунту располагаются таким образом из-за локализованных шунтов. В этом случае происходит нагрев горячей точки, поскольку на небольшой площади протекает большой ток. Поскольку это локальное явление, существует большой разброс в производительности клеток этого типа. Ячейки с наименьшим шунтирующим сопротивлением имеют высокую вероятность работы при чрезмерно высоких температурах при обратном смещении. Поскольку нагрев локализован, отказы в горячих точках элементов с низким шунтирующим сопротивлением происходят быстро. Ячейки с высоким шунтирующим сопротивлением: наихудший случай затенения.......
ASTM E2481-08 История
2023ASTM E2481-12(2023) Стандартный метод испытаний фотоэлектрических модулей на защиту от горячих точек
2018ASTM E2481-12(2018) Стандартный метод испытаний фотоэлектрических модулей на защиту от горячих точек
2012ASTM E2481-12 Стандартный метод испытаний фотоэлектрических модулей на защиту от горячих точек
2008ASTM E2481-08 Стандартный метод испытаний фотоэлектрических модулей на защиту от горячих точек
2006ASTM E2481-06 Стандартный метод испытаний фотоэлектрических модулей на защиту от горячих точек