Этот стандарт определяет определения аналитических методов, с помощью которых идентифицируются элементы и определяются их концентрации посредством измерений рентгеновского излучения или флуоресценции. Целью настоящего стандарта является установление определений TXRF и сопоставление их с определениями, относящимися к различным областям оптического атомно-спектрального анализа: оптической эмиссионной спектрометрии (OES), атомно-абсорбционной спектрометрии (AAS) и атомно-флуоресцентной спектрометрии (AFS).
DIN 51003:2004 Ссылочный документ
DIN 32633 Химический анализ. Методы добавления стандартов. Процедура, оценка, с компакт-диском.*, 2013-05-01 Обновление
DIN 5031-8 Физика излучения в области оптики и светотехники; определения и константы радиационной физики
DIN 51009 Оптический атомно-спектральный анализ. Принципы и определения*, 2013-11-01 Обновление
DIN 51418-1 Рентгеновская спектрометрия. Рентгеновско-эмиссионный и рентгенофлуоресцентный анализ (РФА). Часть 1. Определения и основные принципы.*, 2008-08-01 Обновление