GB/T 22319.8-2008
Измерение параметров кварцевых блоков. Часть 8. Испытательное приспособление для кварцевых блоков поверхностного монтажа. (Англоязычная версия)

Стандартный №

GB/T 22319.8-2008

язык

Китайский, Доступно на английском

Дата публикации

2008

Разместил

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China

Последняя версия

GB/T 22319.8-2008

сфера применения

В этой части GB/T 22319 указаны измерительные приспособления, которые могут точно измерять резонансную частоту, резонансное сопротивление и параметры эквивалентной схемы безвыводных кварцевых компонентов для поверхностного монтажа. Методы измерения соответствуют стандартам IEC 60444-4-1988 и IEC 60444-5-Технология нулевой фазы, указанной в 1995 году. См. следующие разделы для ознакомления с эквивалентной схемой и применимым диапазоном частот с использованием этого измерительного приспособления. Кроме того, этот раздел также применим к корпусам безвыводных кристаллических элементов согласно IEC 61240-1994. Эквивалентная схема и электрические параметры измерительного прибора основаны на стандартах IEC 60444-1-1986 и IEC 60444-4-1988. Диапазон емкости нагрузки составляет 10 пФ или выше. В этой части также указана калибровка измерительной системы и C-чипа. Эта часть применима к измерительным приборам, которые могут точно измерять резонансную частоту, резонансное сопротивление, параллельную емкость C, динамическую емкость C и динамическую индуктивность L компонентов кристалла кварца. Диапазон частот составляет от 1 МГц до 150 МГц. Сетевой анализатор.

GB/T 22319.8-2008 Ссылочный документ

• IEC 60444-1:1986 Измерение параметров кристаллической установки кварца методом нулевой фазы в -сети; часть 1: основной метод измерения резонансной частоты и резонансного сопротивления кварцевых кристаллов методом нулевой фазы в -сети.
• IEC 60444-2:1980 Измерение параметров кристаллической установки кварца методом нулевой фазы в -сети; Часть 2: метод смещения фазы для измерения подвижной емкости кристаллов кварца.
• IEC 60444-5:1995 Измерение параметров кварцевого кристалла. Часть 5. Методы определения эквивалентных электрических параметров с использованием методов автоматического анализатора цепей и коррекции ошибок.
• IEC 61240:1994 Пьезоэлектрические устройства. Подготовка габаритных чертежей устройств поверхностного монтажа (SMD) для регулирования и выбора частоты. Общие правила

GB/T 22319.8-2008 История

• 2008 GB/T 22319.8-2008 Измерение параметров кварцевых блоков. Часть 8. Испытательное приспособление для кварцевых блоков поверхностного монтажа.

GB/T 22319.8-2008 - Все части