В этом документе описан метод неразрушающего измерения толщины проводящих покрытий на непроводящих базовых материалах. Этот метод основан на принципе измерения листового удельного сопротивления и применим к любым проводящим покрытиям и слоям металлов и полупроводниковых материалов. Как правило, зонд необходимо адаптировать к проводимости и толщине соответствующего применения. Однако в этом документе основное внимание уделяется металлическим покрытиям на непроводящих базовых материалах (например, медь на пластиковых подложках, печатных платах). ПРИМЕЧАНИЕ 1. Этот метод также применим для измерения толщины меди в сквозных отверстиях печатных плат. Однако для этого применения необходима геометрия зонда, отличная от описанной в этом документе. ПРИМЕЧАНИЕ 2. Этот метод также применим для измерения толщины проводящих покрытий на проводящих материалах основы, если удельное сопротивление покрытия и материала основы различно. Этот случай не рассматривается в настоящем документе.
EN 14571:2005 История
2005EN 14571:2005 Металлические покрытия на неметаллической основе. Измерение толщины покрытия. Метод микрорезистивности.