JIS R 1660-2:2004
Метод измерения диэлектрических свойств тонкой керамики в диапазоне частот миллиметровых волн. Часть 2. Метод открытого резонатора

Стандартный №

JIS R 1660-2:2004

Дата публикации

2004

Разместил

Japanese Industrial Standards Committee (JISC)

Последняя версия

JIS R 1660-2:2004

сфера применения

Настоящий стандарт определяет метод измерения диэлектрических свойств мелкодисперсной керамики для диэлектрических подложек с малыми потерями, применяемых преимущественно в цепях миллиметрового диапазона волн, в диапазоне миллиметровых волн методом резонатора открытого типа.

JIS R 1660-2:2004 История

• 2004 JIS R 1660-2:2004 Метод измерения диэлектрических свойств тонкой керамики в диапазоне частот миллиметровых волн. Часть 2. Метод открытого резонатора