ASTM C810-90(2000) Стандартный метод определения содержания никеля на стали для эмалирования фарфора методом рентгеновской эмиссионной спектрометрии - Стандарты и спецификации PDF

ASTM C810-90(2000)
Стандартный метод определения содержания никеля на стали для эмалирования фарфора методом рентгеновской эмиссионной спектрометрии

Стандартный №
ASTM C810-90(2000)
Дата публикации
1990
Разместил
American Society for Testing and Materials (ASTM)
состояние
быть заменен
ASTM C810-90(2006)
Последняя версия
ASTM C810-90(2016)
сфера применения
1.1 Настоящий метод испытаний охватывает измерение количества никеля, осаждаемого на листовой стали во время ее подготовки к эмалированию фарфора. Это метод рентгеновской эмиссии, используемый для тестирования панелей образцов или некоторых коммерческих деталей. Примечание 1. Альтернативным влажным химическим методом является метод испытаний C715. 1.2 Значения, указанные в дюймах-фунтах, следует рассматривать как стандартные. Значения в скобках приведены только для информации. 1.3 Настоящий стандарт не претендует на решение всех проблем безопасности, связанных с его использованием. Пользователь настоящего стандарта несет ответственность за установление соответствующих мер безопасности и охраны труда и определение применимости нормативных ограничений перед использованием. Подробную информацию об опасностях см. в разделе 7.

ASTM C810-90(2000) История

  • 1970 ASTM C810-90(2016)
  • 1990 ASTM C810-90(2011)e1 Стандартный метод определения содержания никеля на стали для эмалирования фарфора методом рентгеновской эмиссионной спектрометрии
  • 1990 ASTM C810-90(2006) Стандартный метод определения содержания никеля на стали для эмалирования фарфора методом рентгеновской эмиссионной спектрометрии
  • 1990 ASTM C810-90(2000) Стандартный метод определения содержания никеля на стали для эмалирования фарфора методом рентгеновской эмиссионной спектрометрии
  • 2000 ASTM C810-90(1995) Стандартный метод определения содержания никеля на стали для эмалирования фарфора методом рентгеновской эмиссионной спектрометрии



© 2023. Все права защищены.