ASTM E2090-00 Стандартный метод испытаний для дифференцированного по размеру подсчета частиц и волокон, выделяющихся из салфеток для чистых помещений, с использованием оптической и сканирующей электронной микроскопии
1.1 Этот метод испытаний охватывает тестирование всех салфеток, используемых в чистых помещениях и других контролируемых средах, на характеристики, связанные с чистотой твердых частиц. 1.2 Этот метод испытаний включает использование компьютерного анализа изображений, а также аппаратного и программного обеспечения для подсчета фильтров с густым содержанием частиц. (видеть ). Хотя использование этого оборудования не является абсолютно необходимым, настоятельно рекомендуется повысить точность, скорость и последовательность подсчета. 1.3 Значения, указанные в единицах СИ, следует рассматривать как стандарт. Настоящий стандарт не претендует на то, чтобы охватить все проблем безопасности, если таковые имеются, связанных с его использованием. Пользователь настоящего стандарта несет ответственность за установление соответствующих мер безопасности и охраны труда и определение применимости нормативных ограничений перед использованием.
ASTM E2090-00 История
2020ASTM E2090-12(2020) Стандартный метод испытаний для дифференцированного по размеру подсчета частиц и волокон, высвободившихся из салфеток для чистых помещений, с использованием оптической и сканирующей электронной микроскопии
2012ASTM E2090-12 Стандартный метод испытаний для дифференцированного по размеру подсчета частиц и волокон, высвободившихся из салфеток для чистых помещений, с использованием оптической и сканирующей электронной микроскопии
2006ASTM E2090-06 Стандартный метод испытаний для дифференцированного по размеру подсчета частиц и волокон, высвободившихся из салфеток для чистых помещений, с использованием оптической и сканирующей электронной микроскопии
2000ASTM E2090-00 Стандартный метод испытаний для дифференцированного по размеру подсчета частиц и волокон, выделяющихся из салфеток для чистых помещений, с использованием оптической и сканирующей электронной микроскопии