ASTM C978-04 Стандартный метод испытаний для фотоупругого определения остаточных напряжений в прозрачной стеклянной матрице с использованием поляризационного микроскопа и процедур компенсации оптического запаздывания
На качество и эксплуатационные характеристики изделия из стекла может влиять не только наличие остаточных напряжений из-за термической обработки выше точки деформации в посуде, но также дополнительные остаточные напряжения, вызванные различиями в тепловом расширении между стеклянной подложкой, и либо шнур, обожженная стеклоэмаль, либо украшение ACL. Эффекты этих дополнительных остаточных напряжений в пуповине, эмали или передней крестообразной сцепке и результирующая производительность таких изделий могут быть оценены с помощью процедур тестирования производительности. Такие оценки напряжений эмали или ACL также могут быть выполнены путем определения соответствующих физических свойств декоративного и матричного стекла или аналитическими методами. Этот метод испытаний предлагает прямой и удобный способ определения величин и пространственного распределения систем остаточных напряжений в стеклянных подложках. Метод испытания прост, удобен и количественно точен. Этот метод испытаний полезен при оценке степени совместимости между коэффициентом теплового расширения эмали или ACL, нанесенных на стеклянную подложку. 1.1 Этот метод испытаний охватывает определение остаточных напряжений в прозрачной стеклянной матрице с помощью поляризационного микроскопа с использованием процедуры компенсации нуля или задержки. 1.2 Такие определения остаточных напряжений имеют важное значение для оценки характера и степени остаточных напряжений, присутствующих в стеклянных матрицах из-за корда, или степени прилегания, или пригодности конкретной комбинации стеклянной матрицы и эмали, или наносимая цветовая метка (ACL).1.3. Метод компенсации задержки оптического определения и оценки систем остаточных напряжений эмали или ACL предлагает явные преимущества перед методами, требующими измерения физических свойств или испытаний производительности изделий, благодаря своей простоте, воспроизводимости и точности.1.4 Ограничения8212;Это Метод испытаний основан на принципе компенсации оптического напряжения и поэтому применим только к прозрачным стеклянным подложкам, а не к непрозрачным стеклянным системам.1.5 В связи с возможностью возникновения дополнительных остаточных напряжений, возникающих в результате ионного обмена между стеклами различного состава, некоторые неопределенность может быть внесена в значение оптического коэффициента напряжения в интересующей точке из-за отсутствия точных знаний о химическом составе в интересующих областях. 1.6 Этот метод испытаний количественно применим и действителен только для тех применений, где такие значительные ионный обмен не является решающим фактором, а оптические коэффициенты напряжения известны или могут быть определены.1.7. Степень процесса ионного обмена и, следовательно, величины остаточных напряжений, возникающих в результате ионного обмена, будут зависеть от параметров процесса обмена. Определения остаточного напряжения, выполненные в системах, в которых произошел ионный обмен, следует интерпретировать с учетом этих зависимостей. 1.8 Значения, указанные в единицах СИ, следует рассматривать как стандартные. Значения, указанные в скобках, предназначены только для информации. 1.9 Настоящий стандарт не претендует на решение всех проблем безопасности, если таковые имеются, связанных с его использованием. Пользователь настоящего стандарта несет ответственность за установление соответствующих мер безопасности и охраны труда и определение применимости нормативных ограничений перед использованием.
ASTM C978-04 История
2019ASTM C978-04(2019) Стандартный метод испытаний для фотоупругого определения остаточных напряжений в прозрачной стеклянной матрице с использованием поляризационного микроскопа и процедур компенсации оптического запаздывания
2004ASTM C978-04(2014) Стандартный метод испытаний для фотоупругого определения остаточных напряжений в прозрачной стеклянной матрице с использованием поляризационного микроскопа и процедур компенсации оптического запаздывания
2004ASTM C978-04(2009) Стандартный метод испытаний для фотоупругого определения остаточных напряжений в прозрачной стеклянной матрице с использованием поляризационного микроскопа и процедур компенсации оптического запаздывания
2004ASTM C978-04 Стандартный метод испытаний для фотоупругого определения остаточных напряжений в прозрачной стеклянной матрице с использованием поляризационного микроскопа и процедур компенсации оптического запаздывания
2002ASTM C978-02 Стандартный метод испытаний для фотоупругого определения остаточных напряжений в прозрачной стеклянной матрице с использованием поляризационного микроскопа и процедур компенсации оптического запаздывания
1987ASTM C978-87(1996) Стандартный метод испытаний для фотоупругого определения остаточных напряжений в прозрачной стеклянной матрице с использованием поляризационного микроскопа и процедур компенсации оптического запаздывания