1.1 Настоящий метод испытаний охватывает измерение коэффициента усиления по постоянному току с общим эмиттером (прямой, hFE или инвертированный, hFEI) биполярных транзисторов, для которых ток утечки коллектор-эмиттер, ICEO, составляет менее 10 % тока коллектора IC. , при котором должно проводиться измерение и для которого шунтирующий ток утечки в цепи базы составляет менее 10 % требуемого тока базы. 1.2 Этот метод испытаний пригоден для измерения коэффициента усиления по постоянному току с общим эмиттером при одном заданном значении тока коллектора испытуемого транзистора или в заданном диапазоне токов коллектора (например, в диапазоне испытуемого транзистора). 1.2.1 Номинальные диапазоны тока коллектора, в которых предполагается использовать три испытательные цепи, следующие: 1.2.1.1 Цепь 1 - менее 100 мкА, 1.2.1.2 Цепь 2 - от 100 мкА до 100 мА, и 1.2.1.3 Контур 3, более 100 мА. 1.3 Этот метод испытаний включает испытания, позволяющие определить, достаточно ли мала мощность, рассеиваемая в транзисторе, чтобы температура перехода была примерно такой же, как температура окружающей среды. 1.4 Значения, указанные в Международной системе единиц (СИ), следует рассматривать как стандартные. Никакие другие единицы измерения в настоящий стандарт не включены. 1.5 Настоящий стандарт не претендует на решение проблем безопасности, если таковые имеются, связанных с его использованием. Тот, кто использует этот стандарт, несет ответственность за консультации и установление соответствующих мер безопасности и охраны труда, а также определение применимости нормативных ограничений перед использованием.
ASTM F528-99 История
1999ASTM F528-99(2005) Стандартный метод измерения коэффициента усиления переходных транзисторов по постоянному току с общим эмиттером
1999ASTM F528-99 Стандартный метод измерения коэффициента усиления переходных транзисторов по постоянному току с общим эмиттером