ASTM B487-85(2002) Стандартный метод испытаний для измерения толщины металлических и оксидных покрытий путем микроскопического исследования поперечного сечения
1.1 Настоящий метод испытаний охватывает измерение локальной толщины металлических и оксидных покрытий путем микроскопического исследования поперечных сечений с помощью оптического микроскопа. 1.2 При хороших условиях при использовании оптического микроскопа метод способен обеспечить абсолютную точность измерения 0,8. м. Это определит пригодность метода для измерения толщины тонких покрытий. 1.3 Настоящий стандарт не претендует на решение всех проблем безопасности, если таковые имеются, связанных с его использованием. Пользователь настоящего стандарта несет ответственность за установление соответствующих мер безопасности и охраны труда и определение применимости нормативных ограничений перед использованием. (Это особенно применимо к химическим веществам, указанным в X2.1.)
ASTM B487-85(2002) История
2020ASTM B487-20 Стандартный метод испытаний для измерения толщины металлических и оксидных покрытий путем микроскопического исследования поперечного сечения
1985ASTM B487-85(2013) Стандартный метод испытаний для измерения толщины металлических и оксидных покрытий путем микроскопического исследования поперечного сечения
1985ASTM B487-85(2007) Стандартный метод испытаний для измерения толщины металлических и оксидных покрытий путем микроскопического исследования поперечного сечения
1985ASTM B487-85(2002) Стандартный метод испытаний для измерения толщины металлических и оксидных покрытий путем микроскопического исследования поперечного сечения
1985ASTM B487-85(1997) Стандартный метод испытаний для измерения толщины металлических и оксидных покрытий путем микроскопического исследования поперечного сечения