ASTM F584-87(2005)
Стандартная практика визуального контроля полупроводниковой свинцовой проволоки

Стандартный №

ASTM F584-87(2005)

Дата публикации

1987

Разместил

American Society for Testing and Materials (ASTM)

состояние

быть заменен

быть заменен

ASTM F584-06

Последняя версия

ASTM F584-06e1

сфера применения

1.1 Настоящая методика охватывает условия неразрушающего визуального контроля качества поверхности намотанной алюминиевой и золотой проволоки, используемой для выполнения внутренних соединений полупроводниковых приборов и гибридных микроэлектронных соединений. 1.2 Настоящая методика определяет рекомендуемое освещение, увеличение и расположение образцов для проверки намотанной проволоки под оптический микроскоп.1.3 Фотографии (рис. Х1-Х1.5) включены в Приложение Х1 в качестве руководства, помогающего инспектору определить конкретные состояния поверхности. Эти фотографии не являются стандартами для определения качества поверхности проволоки. 1.4 Значения, указанные в единицах СИ, следует рассматривать как стандарт. Значения, указанные в скобках, предназначены только для информации. 1.5 Настоящий стандарт не претендует на решение всех проблем безопасности, если таковые имеются, связанных с его использованием. Пользователь настоящего стандарта несет ответственность за установление соответствующих мер безопасности и охраны труда и определение применимости нормативных ограничений перед использованием.

ASTM F584-87(2005) История

• 2006 ASTM F584-06e1 Стандартная практика визуального контроля полупроводниковой свинцовой проволоки
• 2006 ASTM F584-06 Стандартная практика визуального контроля полупроводниковой свинцовой проволоки
• 1987 ASTM F584-87(2005) Стандартная практика визуального контроля полупроводниковой свинцовой проволоки
• 1999 ASTM F584-87(1999) Стандартная практика визуального контроля полупроводниковой свинцовой проволоки