ASTM C835-06 Стандартный метод испытаний на общую полусферическую эмиттанс поверхностей до 1400–176;C - Стандарты и спецификации PDF

ASTM C835-06
Стандартный метод испытаний на общую полусферическую эмиттанс поверхностей до 1400–176;C

Стандартный №
ASTM C835-06
Дата публикации
2006
Разместил
American Society for Testing and Materials (ASTM)
состояние
быть заменен
ASTM C835-06(2013)e1
Последняя версия
ASTM C835-06(2020)
сфера применения
ДИЗАЙН: C835 06 ^НАЗВАНИЕ: Стандартный метод испытаний на общую полусферическую эмиттанс поверхностей при температуре до 1400C ^ОБЛАСТЬ ПРИМЕНЕНИЯ:1. Область применения 1.1. Этот калориметрический метод испытаний охватывает определение общего полусферического эмиттанса металлических и графитовых поверхностей, а также металлических поверхностей с покрытием при температуре примерно до 1400°C. Верхняя температура использования ограничивается только характеристиками (например, температурой плавления, давлением пара) образца и конструктивными пределами испытательной установки. Этот метод испытаний был продемонстрирован для использования при температуре до 1400 C. Нижняя температура использования ограничена температурой колпака. Настоящий стандарт не претендует на решение всех проблем безопасности, если таковые имеются, связанных с его использованием. Пользователь настоящего стандарта несет ответственность за установление соответствующих мер безопасности и охраны труда и определение применимости нормативных ограничений перед использованием. Конкретные указания на опасность приведены в разделе 7.

ASTM C835-06 История

  • 2020 ASTM C835-06(2020) Стандартный метод испытаний на общую полусферическую эмиттанс поверхностей до 1400°C
  • 2006 ASTM C835-06(2013)e1 Стандартный метод испытаний на общую полусферическую эмиттанс поверхностей при температуре до 1400 градусов Цельсия
  • 2006 ASTM C835-06 Стандартный метод испытаний на общую полусферическую эмиттанс поверхностей до 1400–176;C
  • 2001 ASTM C835-01(2006) Стандартный метод испытаний для определения общей полусферической эмиттанса поверхностей до 1400–176°C
  • 2001 ASTM C835-01 Стандартный метод испытаний для определения общей полусферической эмиттанса поверхностей до 1400–176°C
  • 2001 ASTM C835-00 Стандартный метод испытаний на общую полусферическую эмиттанс поверхностей при температуре до 1400°С



© 2023. Все права защищены.